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简单介绍：
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
详情介绍：
测量半导电电阻率时： 电阻率10-4--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm
测量其他（落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、 小数电流电压表： 1． 示值 2 mV、20 mV、200 mV、2V 2． 预估不确定度 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字) 3． 现示4 1/2 十位数字现示0—19999兼具导电性和超负荷自然现示，小数点、方自然现示。 三、 恒流源： 1． 电压传输：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA． 2. 功率测量误差：±(0.5%读数+2字)
